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操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)MODEL：5500 本機(jī)器可模擬Notebook、手機(jī)、PDA各種動(dòng)作之操作，以了解產(chǎn)品在經(jīng)多次使用后，各種零件的耐久狀況。 由計(jì)算機(jī)設(shè)定測(cè)試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作，一臺(tái)計(jì)算機(jī)可同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器。 
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Notebook測(cè)試規(guī)格 ● 磁盤(pán)片插入、退出試驗(yàn) ● 電池插入、退出試驗(yàn) ● PCMCIA插入、退出試驗(yàn) ● 光驅(qū)插入、退出試驗(yàn) ● 各種接頭插入、退出試驗(yàn) (Print port、COM port、USB、PS2…等等) ● 桌面放落試驗(yàn) 手機(jī)測(cè)試規(guī)格 ● 天線上、下抽取試驗(yàn) ● ON、OFF開(kāi)關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn) ● 天線彎曲試驗(yàn) ● 上蓋打開(kāi)、關(guān)閉耐久試驗(yàn) ● 電池插入、拔出試驗(yàn) ● 短距離落下耐久試驗(yàn) ● 連接器插入、拔出耐久試驗(yàn) ● SIM卡插入、拔出耐久試驗(yàn) PDA測(cè)試規(guī)格 ● CF卡插拔耐久試驗(yàn) ● 觸控筆插拔耐久試驗(yàn) ● 電池蓋插拔耐久試驗(yàn) ● 觸控屏幕磨擦耐久試驗(yàn) ● DC插頭耐久試驗(yàn) ● ON、OFF開(kāi)關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn) ● 連接器插拔耐久試驗(yàn) 機(jī)器規(guī)格
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